T-MAP
Установка для бесконтактного измерения свойств поверхности пластин и точности геометрических параметров
|
Назначение: Установка создана специально для нужд полупроводниковой промышленности. T-MAP имеет один или два инфракрасных сенсора, которые измеряют геометрические параметры подложек, такие как толщину, полный разброс по толщине, форму и плоскостность.
Возможность измерения подложек от 50 мм до 300 мм пластины. T-MAP обеспечивает высокую точность и воспроизводимость измерений на моно- и многослойных подложках из всех видов материалов. Вся система, программное обеспечение и интерфейс общения человек-машина специально разработаны так, чтобы пользователь легко и быстро проводил измерения.
|
Ключевые особенности прибора:
- Небольшая занимаемая площадь производственного помещения и совместимость с чистыми комнатами
- Ручная загрузка (до 200 мм), полуавтоматическая или полностью автоматическая загрузка, с возможностью использования загрузки роботом пластин вплоть до 300 мм.
- Легкий и быстрый как в эксплуатации, так и в настройке прибор
- Позволяет создавать плоскую и объемную модель (3D) измеряемой подложки
- Измерения формы подложки позволяет в реальном времени наблюдать измерения на дисплее
- Встроенная функция пересчета различных факторов влияющих на измерения позволяет избежать неверных данных и дает 100% достоверность измерения
- Легкосъемные подложкодержатели
- Возможность микроскопии и функция распознавания изображения дают возможность определения пользователем области измерения.
- Возможность инфракрасной микроскопии позволяет определять дефекты после совмещения слоев многослойных печатных плат
Бесконтактный метод измерения позволяет измерять параметры:
- Толщину подложек
- Толщину слоев в многослойных подложках (>3 мкм)
- Изгиб и коробление
- Плоскостность поверхности
- Толщину каждой подложки в кассете.
Области применения:
- Измерение геометрических параметров подложек диаметром до 300 мм
- Измерение толщины очень тонких подложек
- Измерение и контроль 3D сборок (подложка на подложке, матрица на подложке)
- Измерение изгиба подложек
- Измерение параметров подложек в кассете